仪器编号：登录后查看
所属平台： 电镜集群
仪器状态：
所属单位： 浙江大学 > 建筑工程学院 > 材料微结构试验平台
仪器生产商： FEI
购置日期： 2011-12-27
规格型号： FEG650,Quanta
放置地址：紫金港校区 > 安中大楼 > 一层 > 105
仪器管理员：彭宇
联系电话：登录后查看
场发射环境扫描电镜及能谱仪
场发射环境扫描电镜及能谱仪
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仪器状态：
所属单位： 浙江大学 > 建筑工程学院 > 材料微结构试验平台
仪器生产商： FEI
购置日期： 2011-12-27
规格型号： FEG650,Quanta
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| 工作时间： | 09:00-12:00;14:00-18:00 |
|---|---|
| 最小可预约时间段： | 1 小时 |
| 最大可预约时间段： | 168 小时 |
| 日历最小单位： | 1 小时 |
| 最近提前预约时间： | 未授权用户: 24小时； 普通资格用户: 24小时； 资深资格用户: 24小时 |
| 最远提前预约时间： | 初级: 720 小时 0 点； 普通: 720 小时 0 点； 资深: 720 小时 0 点 |
| 最大有效预约次数： | 5 次/天 |
| 无代价撤销预约时间： | 1440 分钟 |
| 序号 | 标题 | 文件数量 | 添加时间 | 操作 |
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| 序号 | 标题 | 添加时间 |
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| 暂无数据 | ||
| 仪器介绍： | 用于观察材料表面的微细形貌、断口及内部组织，并对材料表面微区成分进行定性和定量分析，主要用途如下：1.金属、陶瓷、混凝土、生物、高分子、矿物、纤维等无机或有机固体材料的断口、表面形貌、变形层等的观察；2.材料的相分布和夹杂物形态成分的鉴定；3.金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定等；
图1 扫描电镜仪器图。配有二次电子探头、背散射电子探头与X射线能谱探头，可以对材料的微观结构、物相组成与元素组成等信息进行观察与分析。
图2 二次电子图像。二次电子图像是利用入射电子在样品内部激发的二次电子所成的像。由于二次电子能量较低，只能从样品表层较浅的区域（一般5-10 nm）逸出，且对样品表面形态、起伏敏感，在边角、转折、尖角、凸起等处逸出的二次电子较多，而在平整面、凹坑、孔隙、裂缝等处逸出的二次电子较少。因此，二次电子图像能够很好地反应样品表面形态特征。
图 3 背散射电子图像及能谱分析。背散射电子是与样品发生弹性散射后被样品反弹回的入射电子，其产额与样品微区的平均原子序数成正比：平均原子系数高的区域产生的背散射电子数量多，而平均原子序数低的区域产生的背散射电子数量少。因此，背散射电子图像的明暗反应的是样品微区平均原子序数高低，可对样品不同区域的成分进行区分，结合能谱元素分析与图像处理技术，可对样品微区的物相进行定性分析与定量统计。 |
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| 主要参数： | 分高真空、高真空、低真空、环境真空模式，最高分辨率≤1.0nm。最大放大倍数不得少于X800000，二次电子检测器，样品台尺寸XY水平方向0~50mm,竖向Z不得少于30mm。 |
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