场发射扫描电子显微镜

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工作时间：	09:00-12:00;14:00-18:00
最小可预约时间段：	1 小时
最大可预约时间段：	168 小时
日历最小单位：	1 小时
最近提前预约时间：	未授权用户: 24小时；普通资格用户: 24小时；资深资格用户: 24小时
最远提前预约时间：	初级: 720 小时 0 点；普通: 720 小时 0 点；资深: 720 小时 0 点
最大有效预约次数：	5 次/天
无代价撤销预约时间：	1440 分钟

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仪器介绍：	日本电子（JEOL）JSM-IT800场发射扫描电子显微镜，该仪器具有超高分辨率，能观察各种固态样品表面形貌的二次电子像、背散射电子像，配备超大窗口SDD探头的高性能X射线能谱仪，同时进行样品表层的EDS微区（点、线、面元素扫描）定性、半定量及定量分析，测试范围Be4-U92元素，具有形貌、化学组分综合分析能力。与一般钨灯丝扫描电镜相比，它能以更高的分辨率观察固体样品表面显微结构和形貌，对金属、无机非金属、高分子、纳米等材料的表面超微结构形貌进行分析。此外，本仪器还配备电子背散射衍射系统（EBSD），可对平整样品进行分析，通过衍射条带进行物相鉴定、LPO取向分析、极图分析等；配备阴极荧光谱仪（CL），可获得样品的全光、分光图像。

仪器介绍：

日本电子（JEOL）JSM-IT800场发射扫描电子显微镜，该仪器具有超高分辨率，能观察各种固态样品表面形貌的二次电子像、背散射电子像，配备超大窗口SDD探头的高性能X射线能谱仪，同时进行样品表层的EDS微区（点、线、面元素扫描）定性、半定量及定量分析，测试范围Be4-U92元素，具有形貌、化学组分综合分析能力。与一般钨灯丝扫描电镜相比，它能以更高的分辨率观察固体样品表面显微结构和形貌，对金属、无机非金属、高分子、纳米等材料的表面超微结构形貌进行分析。此外，本仪器还配备电子背散射衍射系统（EBSD），可对平整样品进行分析，通过衍射条带进行物相鉴定、LPO取向分析、极图分析等；配备阴极荧光谱仪（CL），可获得样品的全光、分光图像。

主要参数：	1. 分辨率成像模式 0.7nm (20kV)；1.3nm (1kV); 分析模式：3.0 nm(15 kV，5 nA，WD 10 mm) 2. 加速电压 0.01 - 30KV连续可调 3. 放大倍数 10– 1,000,000 4. 自动调整功能具有自动透镜控制、自动合轴、自动聚焦、消像散、反差、亮度调节功能，样品台导航控制等功能，并兼有手动调整功能 5. 样品台全对中样品台具有5轴马达驱动功能, X＝70mm, Y=50mm, Z=41mm,倾斜 -5°- +70°,旋转 360度 6. 探测器二次电子探测器：二次电子像; 背散射电子探测器：成分像、形貌像和阴影像 7. 显示器 27英寸LCD 或以上 8. EDS能谱仪能量分辨率：127eV; 探测器类型：40mm2电制冷型; 元素分析范围： e4～Cf98 9. EBSD系统最高在线采集速度400点/秒，在最高速度时花样分辨率为312x256像素; 角度分辨率可达0.05度; 插入最快速度：15mm/s，精度：<10μm 10. 阴极荧光探测范围：320nm-900nm; 操作电压：30V-60V; 全色MPPC单光子探测器

主要参数：

1. 分辨率成像模式 0.7nm (20kV)；1.3nm (1kV); 分析模式：3.0 nm(15 kV，5 nA，WD 10 mm) 2. 加速电压 0.01 - 30KV连续可调 3. 放大倍数 10– 1,000,000 4. 自动调整功能具有自动透镜控制、自动合轴、自动聚焦、消像散、反差、亮度调节功能，样品台导航控制等功能，并兼有手动调整功能 5. 样品台全对中样品台具有5轴马达驱动功能, X＝70mm, Y=50mm, Z=41mm,倾斜 -5°- +70°,旋转 360度 6. 探测器二次电子探测器：二次电子像; 背散射电子探测器：成分像、形貌像和阴影像 7. 显示器 27英寸LCD 或以上 8. EDS能谱仪能量分辨率：127eV; 探测器类型：40mm2电制冷型; 元素分析范围： e4～Cf98 9. EBSD系统最高在线采集速度400点/秒，在最高速度时花样分辨率为312x256像素; 角度分辨率可达0.05度; 插入最快速度：15mm/s，精度：<10μm 10. 阴极荧光探测范围：320nm-900nm; 操作电压：30V-60V; 全色MPPC单光子探测器

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