基本信息

  • 生产厂商 法国Xenocs 公司
  • 资产编号 21035943
  • 资产负责人 岑建孟
  • 购置日期2021-12-28
  • 仪器价格162.00 万元
  • 仪器产地中国
  • 仪器供应商
  • 购买经办人
  • 主要配件
  • 主要参数光源:最大输出功率:3kW,最大电压:60kV,最大电流:60mA,测角仪:转动方式:θ/θ模式,双光学编码盘,DOPS直接光学定位系统,直流马达驱动,测角重现性+/-0.0001度。基本光学系统:发散狭缝:4°,2°,1°,1/2°,1/4°,防散射狭缝:4°,2°,1°,1/2°,1/4°,索拉狭缝:0.04rad。探测器:PIXcel1d全能矩阵探测器,计数矩阵:256*256pixcel像数大小:55um*55um,99%线性范围:10000000000cps,静态扫描范围:6.5°,最小背景:1cps,保证分辨率:0.028度(NIST660a样品),软件:数据采集和数据处理软件一套。

仪器介绍

功能特色:小角—广角联用X射线散射(SAXS-WAXS)可以同步对样品的小角度散射信号与广角度衍射信号进行同步在线采集,一次性得到样品0~602θ°范围内的信号,同步对样品纳米尺度的形状尺寸以及晶体结构进行表征。

服务内容:小角X射线散射技术可用于分析材料的结构信息包括:颗粒尺寸及分布、周期性纳米结构、取向性及其分布、形状和内部结构、结晶度、比表面积(孔隙度)、颗粒集结成核现象、蛋白质在溶液中的结构信息(形状、尺寸)、分子量、聚集状态等。小角X射线散射技术适用的材料体系广泛,可用于纳米材料、聚合物和纳米复合物、纤维、催化剂、表面活性剂与分散体系、液晶、生物材料胶体分散体系、生物大分子、石油、化工、纺织领域等。