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该设备可用于非晶硅、多晶硅、有机半导体、钙钛矿等多种半导体材料的载流子扩散长度测试,可应用于物理、化学、生物、电子等涉及材料与器件电学性质研究的相关学科,应用广泛,具有较高的共享共用价值。