台式原位X射线吸收精细结构谱仪(台式XAFS)，采用独有的X射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析，以极高的灵敏度和光源质量，实现对元素的测定、价态和配位数与键长等信息。XAFS广泛应用于材料科学、化学、电池、催化剂、环境、放射性化学、地质、陶瓷等研究领域。台式XAFS能够获得与同步辐射光源数据质量接近的测量结果，帮助实现“想测就测、随时可测”的XAFS自由。

本设备目前可测元素为：Fe、Cu、Zn、Ti、Mn、Co、Ni、Cr、Ir、Pt、Au、V、Pb、W、Zr、Pr、Nd、Ce、Hf、Se