基本信息

  • 生产厂商 美国Zygo
  • 资产编号 16023540
  • 资产负责人 居冰峰
  • 购置日期2016-12-29
  • 仪器价格74.46 万元
  • 仪器产地美国
  • 仪器供应商
  • 购买经办人居冰峰
  • 主要配件
  • 主要参数系统可对具有曲率突变特征的复杂三维微纳结构进行超精密测量,并可通过白光干涉测量子系统实现三维微纳结构的亚纳米级粗糙度测量和跨尺度高效无失真测量,为扫描探针显微成像提供真实可靠的实验研究依据。其中,购置的白光干涉测量子系统满足以下技术指标:Z轴分辨率:≤0.1nm(150um范围内);RMS重复性:34um/s;干涉物镜:5.5倍视场范围3mx3mm;20倍视场范围0.84x0.84mm;干涉物镜工作距离:5.5x物镜工作距离要求9.6mm;20x物镜工作距离要求4.7mm物镜转台:自动转台;载物台工作范围:样品台大小200x200mm,全自动,带拼接,移动范围150x150mm,能放置200x200mm的方形样品。台阶高度测试精度:≤0.8%(全程20mm范围内);台阶高度重复性:≤0.1%@1sigma。

仪器介绍

本试验台面向具有曲率突变特征的复杂三维微纳结构超精密测量,通过白光干涉测量子系统的亚纳米级测量精度对扫描探针显微测量系统的纳米级测量结果进行校验分析,以揭示大长径比扫描探针与试件表面间的动力学及量子隧道结的耦合特性,为扫描探针显微成像提供真实可靠的实验研究依据,揭示复杂面型轮廓、表面粗糙度、表面波纹度等多参数测量、解耦、表征一体化理论。